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测试系统及其测试方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110322592.5
  • IPC分类号:G09G3/00
  • 申请日期:
    2011-10-21
  • 申请人:
    环旭电子股份有限公司;环鸿科技股份有限公司
著录项信息
专利名称测试系统及其测试方法
申请号CN201110322592.5申请日期2011-10-21
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2013-04-24公开/公告号CN103065572A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G09G3/00IPC分类号G;0;9;G;3;/;0;0查看分类表>
申请人环旭电子股份有限公司;环鸿科技股份有限公司申请人地址
广东省深圳市南山区高新技术产业区环胜电子园 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人环胜电子(深圳)有限公司当前权利人环胜电子(深圳)有限公司
发明人杨正祥
代理机构北京中原华和知识产权代理有限责任公司代理人寿宁;张华辉
摘要
本发明是有关于一种测试系统及其测试方法,该测试系统,用于对一个待测板进行测试,该测试系统包含一个计算机主机及一个电源控制单元,该计算机主机包括一个处理器、一个电连接该处理器的储存模块,及一个电连接该处理器的显示卡,该储存模块储存有多组测试参数,该显示卡具有一个显示连接接口,该电源控制单元分别电连接该待测板及该计算机主机,使用时,该计算机主机输出一个控制信号至该电源控制单元,借此对该待测板供应一个主电压信号,该处理器并通过该显示连接接口输出一个测试信号至该待测板以对该待测板进行检测,进而达到降低成本的有益效果。

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