对测量目标进行测量的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201010181183.3
IPC分类号：G01N21/956
申请日期：
2010-05-13
申请人：
株式会社高永科技

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法律信息

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著录项信息

专利名称	对测量目标进行测量的方法
申请号	CN201010181183.3	申请日期	2010-05-13
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2010-11-17	公开/公告号	CN101887033A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/956 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N21/956 检测物品表面上的图案〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5;6查看分类表>
申请人	株式会社高永科技	申请人地址	韩国首尔变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社高迎科技	当前权利人	株式会社高迎科技
发明人	郑仲基;金珉永;柳希昱
代理机构	北京铭硕知识产权代理有限公司	代理人	韩明星;薛义丹

摘要

本发明公开了一种对测量目标进行测量的方法。为了对PCB上的测量目标进行测量，利用将光栅图案光照射到PCB上而拍摄的第一图像来获取PCB的三维高度信息。然后，利用高度信息将高度比基准高度大而在PCB上突出的第一区域确定为测量目标。然后，利用将光照射到PCB上而拍摄的第二图像来获取PCB的颜色信息。然后，将PCB的颜色信息之中的被确定为测量目标的第一区域的第一颜色信息设定为基准颜色信息。然后，将基准颜色信息与除第一区域之外的区域的颜色信息进行比较，以判定测量目标是否形成在除第一区域之外的区域中。因此，可以精确地对测量目标进行测量。

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