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一种SiNx中间层磁控溅射制备类金刚石膜的方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201410111641.4
  • IPC分类号:C23C14/35;C23C14/06
  • 申请日期:
    2014-03-24
  • 申请人:
    西南科技大学
著录项信息
专利名称一种SiNx中间层磁控溅射制备类金刚石膜的方法
申请号CN201410111641.4申请日期2014-03-24
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2014-06-11公开/公告号CN103849847A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C23C14/35IPC分类号C;2;3;C;1;4;/;3;5;;;C;2;3;C;1;4;/;0;6查看分类表>
申请人西南科技大学申请人地址
四川省绵阳市涪城区青龙大道中段59号西南科技大学 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西南科技大学当前权利人西南科技大学
发明人陈青云;王茜;王金枝;罗瑜;王烈林;王星博;邓云礼
代理机构北京众合诚成知识产权代理有限公司代理人龚燮英
摘要
本发明公开了一种SiNX中间层磁控溅射制备类金刚石膜的方法。本发明是将衬底Si基片清洗处理后,先在基片表面形成一层缓冲层SiNX薄膜,然后以高纯碳靶作为靶材,Ar作为工作气体,在SiNX薄膜上形成类金刚石膜。本发明的制备工艺简单,重复性好,可在低温下沉积,节能且减小降温后膜的应力残余,防止膜层脱落;本发明的方法制得的类金刚石膜具有低内应力,膜层质量好,膜均匀致密等优点。

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