用于模拟测试模块的控制电路及控制系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201010254466.6
IPC分类号：G01R31/28;G01R31/3177
申请日期：
2010-08-11
申请人：
普诚科技股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于模拟测试模块的控制电路及控制系统
申请号	CN201010254466.6	申请日期	2010-08-11
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-03-14	公开/公告号	CN102375113A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;7;7查看分类表>
申请人	普诚科技股份有限公司	申请人地址	中国台湾台北县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	普诚科技股份有限公司	当前权利人	普诚科技股份有限公司
发明人	李扬汉;吴永裕;陈辉煌
代理机构	北京林达刘知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	刘新宇

摘要

本发明提供一种用于模拟测试模块的控制电路及控制系统。在控制电路中使用光耦合器隔绝噪声，并使用通用放大器来调整增益，使得逻辑测试机可配合模拟测试模块中不同规格与操作电压差的继电器进行模拟信号测试。在控制系统中，每一控制电路的移位暂存器亦将测试数据信号逐一传递至下一级的控制电路中，使得逻辑测试机可在仅使用单一输出入端口的前提下同时输出多个位至多个控制电路与模拟测试模块。

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