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测试分选机及其推进装置、测试托盘以及测试机用接口板

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510144784.X
  • IPC分类号:B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36
  • 申请日期:
    2015-03-30
  • 申请人:
    泰克元有限公司
著录项信息
专利名称测试分选机及其推进装置、测试托盘以及测试机用接口板
申请号CN201510144784.X申请日期2015-03-30
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2015-10-14公开/公告号CN104971908A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B07C5/344IPC分类号B;0;7;C;5;/;3;4;4;;;B;0;7;C;5;/;0;2;;;B;0;7;C;5;/;3;6查看分类表>
申请人泰克元有限公司申请人地址
韩国京畿道华城市 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人泰克元有限公司当前权利人泰克元有限公司
发明人罗闰成;具泰兴;郑石;黃正佑
代理机构北京铭硕知识产权代理有限公司代理人孙昌浩;李盛泉
摘要
本发明涉及一种测试分选机及其推进装置、测试托盘以及测试机用接口板。根据本发明的测试分选机具有接触部分,该接触部分电接触于半导体元件的表面以用于测量半导体元件的表面电阻,测试机用接口板具有测量端子,该测量端子能够与接触部分电连接并输出可用于测量半导体元件的表面电阻的信号。其中,测试分选机的接触部分也可以配备于推进装置或测试托盘之类的配件中。根据本发明,由于连半导体元件的表面电阻也可以测量,因此可提高测试的可靠性。

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