一种温差电材料塞贝克系数及电阻率的测量装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201420001968.1
IPC分类号：G01N25/20
申请日期：
2014-01-02
申请人：
上海大学

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著录项信息

专利名称	一种温差电材料塞贝克系数及电阻率的测量装置
申请号	CN201420001968.1	申请日期	2014-01-02
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N25/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N25/00 应用热方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 23/00优先） G01N25/20 通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率	IPC分类号	G;0;1;N;2;5;/;2;0查看分类表>
申请人	上海大学	申请人地址	上海市宝山区上大路99号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海大学	当前权利人	上海大学
发明人	胡志宇，张自强，曾志刚，张向鹏，杨晓云，王志冲
代理机构	上海上大专利事务所（普通合伙）	代理人	何文欣

摘要

本实用新型公开了一种温差电材料塞贝克系数及电阻率的测量装置。该装置采用可粗、细调的升降装置，四根探针固定在升降装置可移动部分，两条热电偶线固定在中间两根探针上，探针和热电偶连接到数据采集模块，采集模块连接计算机，载物台采用散热片，散热片上面有半导体制冷、加热片，散热片下面装有散热风扇，载物台上罩有金属屏蔽罩。电阻率测量是利用四线制法，测试精确。经过处理，热电偶测试的温度点和探针测试的电压点近同一点，减少了误差。此装置的制冷、加热用半导体制冷、加热片，温度均匀，且可测量变温塞贝克系数及电阻率。本装置操作简便，测试功能多，测试精度高，适合块状或薄膜材料塞贝克系数及电阻率的测量，且不破坏样品。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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