一种电路板的检测装置及其检测方法

1.一种电路板的检测装置，其特征在于：所述检测装置包括测试机、与测试机相连接的测试硬件以及安装有测试软件的电脑，测试机采用恒流四端测试，测试机上设有测试模具，测试硬件由一主控卡和多个并联的测试卡组成，测试卡的一端与测试机相连接，另一端与主控卡相连，测试卡上设有多个与测试模具上的测试点相对应的测试通道，主控卡分别与电脑、测试机通讯连接，测试时，主控卡将电脑的测试指令发送给测试卡，并将测试卡的测试数据读取后回传给电脑。
2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于：所述测试机为四线孔到孔测试机，测试模具包括上模和下模，上模和下模的一个用于固定尚未覆膜的电路板，对应地，上模的下表面或下模的上表面分别分布有多个用于测量电路板上的孔的探针，测试机上设有用于控制上模对正并上下移动的传动机构，测试时，上模向下活动，使探针插到电路板的孔边，电脑通过主控卡控制每个测试卡逐个工作，对孔上的探针进行扫描测量，逐个测量孔的电阻并进行对比检测。
3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于：所述下模上设有左右二个供需测试的电路板定位的定位PIN，电路板的两端设有对应的定位孔，所述下模上设有模具定位柱，上模上设有对应的模具定位孔。
4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于：所述定位PIN的头部为锥形，定位孔的直径为1.8～2.2mm，定位PIN的最大直径为2.3～2.7mm。
5.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于：所述探针二个为一组，电路板上的每个孔对应一组探针。
6.根据权利要求1至5任一权利要求所述的检测装置，其特征在于：所述测试卡采用插卡式结构，每个测试卡上设有64个并行的测试通道，测试通道采用无机械触点的大容量光MOS管切换。
7.根据权利要求1至5任一权利要求所述的检测装置，其特征在于：所述主控卡通过USB接口与电脑通讯，主控卡通过HANDLER接口与测试机内部PLC通讯，测试硬件的内部通讯采用GPIB高速并行总线进行通讯。
8.一种电路板的检测方法，其特征在于：采用权利要求1至7所述的检测装置进行测试，具体步骤为：
1)连接好线路，打开测试系统对测试卡和主控卡进行自检；
2)将需测试的尚未覆膜的电路板固定在测试机的测试模具的上模或者下模上，然后将上模对准后下压，使探针插到电路板的孔边，一次将电路板的孔边全部接触，然后电脑通过主控卡控制每个测试卡逐个工作，对孔上的探针进行扫描测量，逐个测量孔的电阻；
3)主控卡读取测试卡的数据并上传给电脑，对电路板上的所有孔测得的电阻与系统设定的电阻值进行比对，对不合格过孔单元进行标记。
9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于：所述测试机上的电阻测量分为二个量程，最大电阻范围量程为2Ω，最小分辨率为100uΩ，单路测试时间为25～30ms。
10.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于：所述测试卡和主控卡的自检，包括二个部分：一、检测测试卡和主控卡的通讯功能是否正常；二、检测测试卡的测量部分工作是否正常，通道是否正常。

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