多物理场疲劳性能测试系统及测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200910049500.3
IPC分类号：G01N3/00;G01N29/14
申请日期：
2009-04-17
申请人：
中国科学院上海硅酸盐研究所

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	多物理场疲劳性能测试系统及测试方法
申请号	CN200910049500.3	申请日期	2009-04-17
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-12-30	公开/公告号	CN101614635
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N3/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N3/00 用机械应力测试固体材料的强度特性	IPC分类号	G;0;1;N;3;/;0;0;;;G;0;1;N;2;9;/;1;4查看分类表>
申请人	中国科学院上海硅酸盐研究所	申请人地址	上海市定西路1295号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海硅酸盐研究所	当前权利人	中国科学院上海硅酸盐研究所
发明人	蔡艳红;唐云山;邓启煌;张建峰;王连军;江莞;陈立东
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种多物理场疲劳性能测试系统及测试方法，具体为力电、力热电耦合条件下，基于材料损伤、破坏实时监测的疲劳性能测试系统、疲劳性能评价及寿命预测方法，属于材料性能评价领域。由于实验设备和测试平台的限制，现有的实验装置和测试技术难以评价压电陶瓷小样品在力电、力热电耦合条件下的疲劳性能，从而限制了压电陶瓷材料及器件的应用发展。针对目前存在的问题，本发明完成了疲劳性能测试系统中力场、热场、电场、声发射部分及适用于MSP方法的模具的合理选择和优化组合设计，提出了小样品疲劳性能评价及寿命预测方法，在此基础上，可以实现力电、力热电耦合场中基于材料损伤、破坏实时监测的压电陶瓷等样品的疲劳性能评价及寿命预测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供