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光电传感器测试装置、包括光电传感器的辐射检测装置以及选择用于辐射检测装置的光电传感器的方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201380058852.X
  • IPC分类号:G01J1/08;G01J3/10;G01J3/50;G01T1/202
  • 申请日期:
    2013-09-26
  • 申请人:
    圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司
著录项信息
专利名称光电传感器测试装置、包括光电传感器的辐射检测装置以及选择用于辐射检测装置的光电传感器的方法
申请号CN201380058852.X申请日期2013-09-26
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2015-07-08公开/公告号CN104769397A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01J1/08IPC分类号G;0;1;J;1;/;0;8;;;G;0;1;J;3;/;1;0;;;G;0;1;J;3;/;5;0;;;G;0;1;T;1;/;2;0;2查看分类表>
申请人圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司申请人地址
美国马萨诸塞州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司当前权利人圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司
发明人A·杜拉;J·M·弗兰克
代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司代理人章蕾
摘要
一种光电传感器测试装置可以用于测试光电传感器。光模块可以产生对应于闪烁器的闪烁光或闪烁光的衍生光的模拟光。受测试的光电传感器可以产生可以被分析的输出。特定光电传感器可以被确定为具有更高量子效率、更高信噪比或另一性能标准并且被选择用于辐射检测装置中,所述辐射检测装置具有可以产生闪烁光的闪烁器。相比于仅仅分析发射光谱和数据手册以及被考虑的光电传感器的其它信息,光电传感器测试装置可以提供选择光电传感器的更精确方式。

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