基于自相关的干涉离焦像散斑转向判别方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201811037322.8
IPC分类号：G01N15/14
申请日期：
2018-09-06
申请人：
天津大学

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著录项信息

专利名称	基于自相关的干涉离焦像散斑转向判别方法
申请号	CN201811037322.8	申请日期	2018-09-06
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-01-11	公开/公告号	CN109187316A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/14 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕 G01N15/10 测试单个颗粒〔4〕 G01N15/14 电光测试〔4〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;1;4查看分类表>
申请人	天津大学	申请人地址	天津市南开区卫津路92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	天津大学	当前权利人	天津大学
发明人	张红霞;孙金露;王晓磊;贾大功;刘铁根
代理机构	天津市北洋有限责任专利代理事务所	代理人	李素兰

摘要

本发明公开了一种基于自相关的干涉离焦像散斑转向判别方法，该方法包括以下步骤：步骤(1)、利用干涉粒子成像系统，获取任意转向下透明椭球粒子的干涉离焦像；步骤(2)、利用MATLAB对干涉离焦像进行自相关处理，对自相关处理的结果图像进行二值化处理，得到自相关处理的中心亮斑；步骤(3)、利用椭圆圈出亮斑，沿椭圆长轴方向画线得到亮斑转向；步骤(4)、步骤(3)中的亮斑转向即干涉离焦像散斑转向。本发明可以实现粒子干涉离焦像的散斑转向判别，进而实现粒子的转向判别，为复杂粒子场测量提供技术支持。

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