一种用于机械加电解抛光制备微型EBSD试样的装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201822058904.6
IPC分类号：C25F7/00;G01N1/32
申请日期：
2018-12-10
申请人：
中国科学院金属研究所

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专利名称	一种用于机械加电解抛光制备微型EBSD试样的装置
申请号	CN201822058904.6	申请日期	2018-12-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	C25F7/00 ? IPC结构图谱： C 化学；冶金 C2 冶金 C25 电解或电泳工艺；其所用设备〔4〕 C25F 电解法除去物体上材料的方法；其所用的设备（借助电化学方法来处理水、废水或污水入C02F 1/46；阳极或阴极保护入 C23F13/00）〔2〕 C25F7/00 从物体上电解除去材料用电解槽的构件，或其组合件（用于电镀及褪镀者入 C25D17/00）；维护或操作〔2〕	IPC分类号	C;2;5;F;7;/;0;0;;;G;0;1;N;1;/;3;2查看分类表>
申请人	中国科学院金属研究所	申请人地址	辽宁省沈阳市沈河区文化路72号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院金属研究所	当前权利人	中国科学院金属研究所
发明人	李阁平;张英东;刘承泽;袁福森;韩福洲;穆罕默德·阿里;郭文斌;顾恒飞
代理机构	沈阳晨创科技专利代理有限责任公司	代理人	张晨

摘要

本实用新型的目的在于提供一种用于机械加电解抛光制备微型EBSD试样的装置，该装置包括取样平台和夹持镊子，所述取样平台由两个对称的夹具和两个圆弧柱组成；夹具高度方向上设有凹槽孔；圆弧柱可卡在凹槽孔内，其高度小于夹具高度；圆弧柱通过螺栓紧固在夹具上，两个夹具带有凹槽孔的一面相对设置，并通过螺栓紧固在一起，且两个夹具之间留有空隙；所述夹持镊子尾部设有放样平台，用于放置并固定微型试样。该装置解决了微型试样的难研磨、难抛光的问题，也解决了微型试样在电解抛光过程中试样紧固的问题。该装置提高了微型EBSD试样的制备效率，制样效果优异，样品解析率达90％以上，且适用范围广，适合推广应用。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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