一种面向蒙皮框桁结构壳体的形位误差检测与评定方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210380539.5
IPC分类号：--
申请日期：
2012-10-09
申请人：
首都航天机械公司;中国运载火箭技术研究院

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著录项信息

专利名称	一种面向蒙皮框桁结构壳体的形位误差检测与评定方法
申请号	CN201210380539.5	申请日期	2012-10-09
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2014-04-09	公开/公告号	CN103712532A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	首都航天机械公司;中国运载火箭技术研究院	申请人地址	北京市丰台区南大红门路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	首都航天机械公司,中国运载火箭技术研究院	当前权利人	首都航天机械公司,中国运载火箭技术研究院
发明人	张普光;王学明;章茂云;孙立强;孟令博;周龙飞
代理机构	核工业专利中心	代理人	高尚梅;刘昕宇

摘要

本发明属于检测评定方法，具体涉及一种面向蒙皮框桁结构壳体的形位误差检测与评定方法。它包括：步骤一：调整测量台，用天车把过渡环安装在测量台上，步骤二：按过渡环和产品的定位标志，把产品吊放在过渡环上定位并夹紧，步骤三：利用千分表、游标卡尺、标准量块等工具测量产品的径向误差值并做记录，步骤四：计算形位公差值并做记录，该形位公差值就是最终检测结果。本发明显著的有益效果是：利用激光跟踪仪对用本发明技术进行形位公差测量的结果进行了验证。验证结果显示，本技术测量结果具有较强的可信度，可以作为航天蒙皮框桁结构壳体产品形位公差的测量方法。本技术也可推广应用到外形尺寸较大的零件的形位误差的检测与评定。

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