程控显微结晶图像测量仪

外观设计专利有效专利

申请号：
CN201830149273.1
LOC分类号：10-05
申请日期：
2018-04-12
申请人：
上海凯历迪新材料科技股份有限公司;上海东华凯利新材料科技有限公司

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著录项信息

专利名称	程控显微结晶图像测量仪
申请号	CN201830149273.1	申请日期	2018-04-12
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	LOC分类号	10-05 查看分类表>
申请人	上海凯历迪新材料科技股份有限公司;上海东华凯利新材料科技有限公司	申请人地址	上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路351号2号楼A661-29室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海凯历迪新材料科技股份有限公司,上海东华凯利新材料科技有限公司	当前权利人	上海凯历迪新材料科技股份有限公司,上海东华凯利新材料科技有限公司
发明人	杨波;杨定海;陆建忠
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

1．本外观设计产品的名称：程控显微结晶图像测量仪。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测定高分子材料的结晶诱导期、降温结晶速率、等温结晶速率和晶体尺寸，并可以对高分子材料的晶体形态进行观察，测试数据自动嵌入在实时图片上，并由计算机全程自动记录。3．本外观设计产品的设计要点：在于产品的形状、图案及其结合。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：设计1立体图。5．指定基本设计：设计1。

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