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基于非完整涡旋光的物体转轴相对距离测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110512955.5
  • IPC分类号:G01S17/08
  • 申请日期:
    2021-05-11
  • 申请人:
    中国人民解放军战略支援部队航天工程大学
著录项信息
专利名称基于非完整涡旋光的物体转轴相对距离测量方法
申请号CN202110512955.5申请日期2021-05-11
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-08-10公开/公告号CN113238239A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01S17/08IPC分类号G;0;1;S;1;7;/;0;8查看分类表>
申请人中国人民解放军战略支援部队航天工程大学申请人地址
北京市怀柔区八一路一号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国人民解放军战略支援部队航天工程大学当前权利人中国人民解放军战略支援部队航天工程大学
发明人邱松;任元;刘通;刘政良;丁友;沙启蒙;王琛;王祎宁
代理机构北京中政联科专利代理事务所(普通合伙)代理人郑久兴
摘要
本发明涉及基于非完整涡旋光的物体转轴相对距离测量方法。涡旋光是一种具有螺旋波阵面的特殊光场,一般其光强呈环状分布,而非完整涡旋光指光场的一部分被遮挡后留下的扇形涡旋光场。涡旋光因其相位中包含的特殊螺旋形波阵面,具有轨道角动量,因此可以测量旋转目标的转速。首先,设计非完整涡旋光相位全息图,使用空间光调制器制备非完整涡旋光;其次,将产生的非完整涡旋光垂直照射到旋转目标表面任意位置,并利用光电探测器接收目标散射回波进行时频分析;最后,通过散射回波中频率信号的宽度及极值信息,即可得出旋转目标转轴与涡旋光传播轴之间的距离,实现转轴位置的测量。本方法光路简洁,操作简便,灵活性强,可实现转轴位置的精确测量。

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