测量超导线圈失超传播速度的装置及其测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201010540138.2
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2010-11-10
申请人：
中国科学院电工研究所

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	测量超导线圈失超传播速度的装置及其测量方法
申请号	CN201010540138.2	申请日期	2010-11-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-04-20	公开/公告号	CN102023268A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院电工研究所	申请人地址	北京市海淀区中关村北二条6号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院电工研究所	当前权利人	中国科学院电工研究所
发明人	胡新宁;王秋良;李毅;崔春艳;戴银明;李兰凯
代理机构	北京科迪生专利代理有限责任公司	代理人	关玲

摘要

本发明测量超导线圈失超传播速度的装置，通过背场超导磁体(4)实现一定的背景磁场，利用制冷机(2)和低温液体提供两种低温工作环境。被测超导线圈(5)安装在低温容器(8)内。被测超导线圈(5)包括被测超导线圈疏绕部分(15)和被测超导线圈密绕部分(16)，分别用于测量被测超导线圈(5)沿导线方向上的失超传播速度和沿径向方向上的失超传播速度。本装置可实现超导线圈在二维方向上失超传播速度的测量，测量精确。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供