一种测试框架结构

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201620782624.8
IPC分类号：G01N29/22;G01N29/04
申请日期：
2016-07-25
申请人：
上海声望声学科技股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种测试框架结构
申请号	CN201620782624.8	申请日期	2016-07-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/22 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/20 （转入G01N 29/032，G01N 29/11） G01N29/22 零部件〔5〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;2;2;;;G;0;1;N;2;9;/;0;4查看分类表>
申请人	上海声望声学科技股份有限公司	申请人地址	上海市长宁区双流路31号607-608室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海声望声学科技股份有限公司	当前权利人	上海声望声学科技股份有限公司
发明人	罗伟;江海斌
代理机构	上海硕力知识产权代理事务所	代理人	郭桂峰

摘要

本实用新型公开了一种测试框架结构，包括：测试框架，用于将待测试件固定安装在所述测试框架内；固定框架，所述固定框架预埋在测试洞口内；所述固定框架套设在所述测试框架的外侧，且所述固定框架与所述测试框架之间可拆卸连接；调节框架，用于调节所述测试框架与所述固定框架之间的安装距离；所述调节框架设置在所述测试框架与所述固定框架之间，且所述调节框架可拆卸连接于所述固定框架。本实用新型中固定框架，方便安装调节框架、测试框架；可以搭配测试配件将不同高度、不同形状的待测试件固定安装在测试框架内；调节框架，不仅可以密封测试框架与固定框架之间的空隙，还可以在安装测试框架时，方便测试框架进行细微调节，以实现完全贴合。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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