一种基于弧面凸轮等距模型的轮廓度误差测量装置及测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410137395.X
IPC分类号：G01B21/20
申请日期：
2014-04-08
申请人：
北京工业大学

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专利名称	一种基于弧面凸轮等距模型的轮廓度误差测量装置及测量方法
申请号	CN201410137395.X	申请日期	2014-04-08
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2014-07-16	公开/公告号	CN103925902A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/20 用于计量轮廓或曲率，例如测定外形〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;2;0查看分类表>
申请人	北京工业大学	申请人地址	北京市朝阳区平乐园100号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京工业大学	当前权利人	北京工业大学
发明人	孙树文;曹思奇;杨建武;陈晨
代理机构	北京思海天达知识产权代理有限公司	代理人	刘萍

摘要

一种基于弧面凸轮等距模型的轮廓度误差测量装置及测量方法属于弧面凸轮的测量与误差评定技术领域。本发明在三坐标测量机上进行，通过搭配转台构成四轴测量坐标系，对弧面凸轮进行测量，测量结果为基于弧面凸轮等距模型的线轮廓度误差。测量装置包括三坐标测量机，水平放置在三坐标测量机平台上的转台系统与计算机。方法包括：改造三坐标测量机；建立弧面凸轮等距曲面模型；建立理论特征线，确定采点策略；建立基准坐标系；建立测量坐标系；根据三坐标测量机的测量结果，结合数学最优化方法，计算线轮廓度误差；结合数学最优化方法，计算弧面凸轮的制造误差。本发明加快测量速度，提高测量准确性，一种经济、实用且操作简单的测量方法。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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