X射线检查用的数据处理装置、以及搭载有该装置的X射线检查装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201680001621.9
IPC分类号：G01N23/087;A61B6/00;A61B6/12
申请日期：
2016-04-20
申请人：
株式会社蛟簿

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著录项信息

专利名称	X射线检查用的数据处理装置、以及搭载有该装置的X射线检查装置
申请号	CN201680001621.9	申请日期	2016-04-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-02-22	公开/公告号	CN106461578A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/087 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕 G01N23/05 利用中子〔3〕 G01N23/085 X射线吸收微细结构〔XAFS〕，例如扩展XAFS〔EXAFS〕〔2018.01〕 G01N23/087 使用多能量X射线〔5，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;8;7;;;A;6;1;B;6;/;0;0;;;A;6;1;B;6;/;1;2查看分类表>
申请人	株式会社蛟簿	申请人地址	日本神奈川变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社蛟簿	当前权利人	株式会社蛟簿
发明人	山河勉;山本修一郎;小幡义治;山崎雅志;冈田雅宏
代理机构	北京鸿元知识产权代理有限公司	代理人	温剑;陈英俊

摘要

本发明能够与厚度无关地并且更高精度地确定物质的种类和性状。数据处理装置(12)对从X射线管(21)照射后透过对象物并且由光子计数型检测单元(26)检测出的X射线的、在每个能量区域中以像素为单位的计数值进行处理。该装置(12)具备：根据计数值计算对象物(OB)的图像的单元(35)；以及在图像上设定关心区域的单元(35)。进一步，该装置(12)具备：从图像中除去存在于关心区域中的作为物质的背景的像素信息的单元(35)；以及根据关心区域中的X射线的在每个能量区域中以像素为单位的计数值，以该像素为单位计算物质相对于X射线特有的透过特性，以作为特有信息的单元(35)。

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