表面污点检测系统及其检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200710201620.1
IPC分类号：G01N21/958
申请日期：
2007-09-07
申请人：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

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著录项信息

专利名称	表面污点检测系统及其检测方法
申请号	CN200710201620.1	申请日期	2007-09-07
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-03-11	公开/公告号	CN101382502
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/958 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N21/958 检测透明材料〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5;8查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司	当前权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司
发明人	赖柏元;简义本;林信力;林光伟
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种表面污点检测系统，其包括至少一个影像获取装置，用于获取待测物表面信息的影像；至少一个光源装置，用于照亮所述待测物的表面；一个与影像获取装置电气连接的信号处理装置，用于对影像获取装置所获取的影像进行处理，以检测所述待测物的表面是否符合预定的标准值，并对亮度值大于平均值的像素点进行标注。上述的表面污点检测系统在影像获取装置及信号处理装置配合作用下，能够准确地判断污点存在的位置，不仅加快了检测速度，而且避免了人工目检存在的主观因素以及其存在的漏检率，进而提高了检测合格率。本发明还涉及上述表面污点检测系统的污点检测方法。

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