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一种针对PLL的ATE测试电路及其测试方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201010607240.X
  • IPC分类号:H03L7/08;H03L7/18
  • 申请日期:
    2010-12-27
  • 申请人:
    北京国睿中数科技股份有限公司
著录项信息
专利名称一种针对PLL的ATE测试电路及其测试方法
申请号CN201010607240.X申请日期2010-12-27
法律状态撤回申报国家暂无
公开/公告日2012-07-11公开/公告号CN102571079A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H03L7/08IPC分类号H;0;3;L;7;/;0;8;;;H;0;3;L;7;/;1;8查看分类表>
申请人北京国睿中数科技股份有限公司申请人地址
北京市海淀区北太平庄路18号城建大厦A座8层 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京国睿中数科技股份有限公司当前权利人北京国睿中数科技股份有限公司
发明人毛鲁丁
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人王岳;王洪斌
摘要
本发明公开了一种针对PLL电路的ATE测试电路及测试方法。该测试电路置于被测PLL电路的外围,包括:测试控制电路,测试开关,一个或一个以上的计数器,与每个计数器对应的比较器,测试结果输出电路。该测试方法包括:(1)配置PLL电路参数和测试控制电路;(2)启动测试开关;(3)计数器进行计数;(4)关闭测试开关;(5)比较器对计数器的输出数值与标准值进行比较;(6)输出测试结果。本发明的测试电路以模块为组织形式,可以在PLL运行过程中对其输出进行有效的测试,并判断PLL输出的正确性,在测试结束时直接输出测试结果,硬件开销小,控制简单,大大降低了ATE所使用的测试向量的复杂度和操作难度。

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