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一种基于全卷积级联自编码器的高光谱异常检测方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110621623.0
  • IPC分类号:G06T9/00
  • 申请日期:
    2021-06-03
  • 申请人:
    西安理工大学
著录项信息
专利名称一种基于全卷积级联自编码器的高光谱异常检测方法
申请号CN202110621623.0申请日期2021-06-03
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-09-10公开/公告号CN113379859A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06T9/00IPC分类号G;0;6;T;9;/;0;0查看分类表>
申请人西安理工大学申请人地址
陕西省西安市碑林区金花南路5号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安理工大学当前权利人西安理工大学
发明人孙帮勇;赵哲
代理机构西安弘理专利事务所代理人戴媛
摘要
本发明公开了一种基于全卷积级联自编码器的高光谱异常检测方法,步骤包括:1)通过第一个编码器进行编码;2)通过第一个解码器进行解码;3)通过第二个编码器进行编码,第二个编码器把第一个重构图像编码成第二个潜在特征;4)通过第二个解码器进行解码,第二个解码器将第二个潜在特征解码成第二个重构图像;5)用马氏距离在第二个重构图像上确定每一个像素的异常值,网络收敛后得到第二个重构数据并拉伸成二维矩阵,用马氏距离进行异常检测,最终得到2D检测结果图。本发明方法通过全卷积级联自编码网络来进行高光谱异常目标检测,克服了单一自编码器非凸的缺陷,从而使得网络能够更好的找到全局最优解。

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