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有源矩阵基板、电光学装置及有源矩阵基板制造方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN00106520.3
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2000-03-10
  • 申请人:
    精工爱普生株式会社
著录项信息
专利名称有源矩阵基板、电光学装置及有源矩阵基板制造方法
申请号CN00106520.3申请日期2000-03-10
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2000-10-11公开/公告号CN1269520
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人精工爱普生株式会社申请人地址
匈牙利布达佩斯1163、XVI奇拉克24-32A1ep1em122 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市华星光电技术有限公司,殷特勒高科技有限公司当前权利人深圳市华星光电技术有限公司,殷特勒高科技有限公司
发明人竹中敏
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人姜郛厚;叶恺东
摘要
提供能容易且准确地检查MIS晶体管的膜质的有源矩阵基板、使用它的电光学装置以及有源矩阵基板的制造方法。在有源矩阵基板上的未形成图象显示区、扫描线驱动电路、数据线驱动电路、信号布线等的部分上形成1mm矩形的膜质检查区80。在该膜质检查区80,形成与TFT 50的高浓度源·漏区同层而且用相同浓度导入了相同杂质的膜质检查用半导体膜1c(硅膜),由于该膜质检查用半导体膜1c从层间绝缘膜4、71、72的开口部8c露出,所以能立即进行膜质分析。

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