具有测试功能的半导体集成电路及制造方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200610002790.2
IPC分类号：G11C29/12;G11C29/44;G11C29/18
申请日期：
2006-01-28
申请人：
株式会社瑞萨科技

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法律信息

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著录项信息

专利名称	具有测试功能的半导体集成电路及制造方法
申请号	CN200610002790.2	申请日期	2006-01-28
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2007-06-06	公开/公告号	CN1975934
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/08 功能测试，例如，在刷新、通电自检〔POST〕或分布型测试期间的测试〔8〕 G11C29/12 用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置〔BIST〕〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;1;2;;;G;1;1;C;2;9;/;4;4;;;G;1;1;C;2;9;/;1;8查看分类表>
申请人	株式会社瑞萨科技	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社瑞萨科技	当前权利人	株式会社瑞萨科技
发明人	芹泽充男;山崎枢;山本雅文;加藤和雄
代理机构	北京市金杜律师事务所	代理人	王茂华

摘要

一种逻辑集成电路包括具有预定逻辑功能的逻辑电路；读/写存储器电路；测试电路，用于测试存储器电路中是否包括失效位；和边界锁存器电路，由多个触发器电路形成，能够使所述逻辑电路与所述存储器电路之间的信号锁存，并且还形成一个移位寄存器。而且，该逻辑集成电路还设置有失效援救信息产生电路，用于在利用测试电路执行测试期间，将测试结果存储到边界锁存器电路，并且根据所存储的测试结果，产生失效援救信息，以救援所述存储器电路的失效。安装在逻辑集成电路上的测试电路能与内置存储器电路的测试并行地产生用于救援失效位的信息，并且还能向外部输出同一信息并援救芯片之内的RAM。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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