测试方法、半导体器件和显示设备

发明专利无效专利

申请号：
CN02802806.6
IPC分类号：--
申请日期：
2002-08-02
申请人：
索尼株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	测试方法、半导体器件和显示设备
申请号	CN02802806.6	申请日期	2002-08-02
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2004-03-03	公开/公告号	CN1479911
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	索尼株式会社	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	索尼株式会社	当前权利人	索尼株式会社
发明人	折井俊彦;秋元修;安部仁;安藤直树
代理机构	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所	代理人	王永刚

摘要

一种测试形成液晶显示设备的半导体衬底的方法，该方法使得甚至在像素电容对布线电容的比率随着液晶显示设备的尺寸降低或液晶显示设备的分辨率提高而降低时也能准确检测到对应于像素单元驱动电路的缺陷状态的电势改变。该方法包括：电荷保持步骤，用于使连接于从连接一个数据线的所有像素开关中选择出的多个像素开关的像素电容保持电荷；以及检测步骤，用于从该一个数据线同时检测在电荷保持步骤中保持在多个像素电容中的电荷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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