专利名称 | 用内嵌的循环冗余校验校验EEPROM数据的方法 | ||
申请号 | CN01802245.6 | 申请日期 | 2001-06-20 |
法律状态 | 撤回 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2003-08-13 | 公开/公告号 | CN1436308 |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | 暂无 | IPC分类号 | 暂无查看分类表> |
申请人 | 密克罗奇普技术公司 | 申请人地址 | 美国亚利桑那州
变更
专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效 |
权利人 | 密克罗奇普技术公司 | 当前权利人 | 密克罗奇普技术公司 |
发明人 | 塞缪尔·E·亚历山大;罗纳德·D·萨尔斯基 | ||
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 马莹;邵亚丽 |
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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该专利没有引用任何外部专利数据! |
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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1 | 2010-10-12 | 2010-10-12 | |||
2 | 2004-11-05 | 2004-11-05 | 针对部分帧的提早CRC传送失效专利 | ||
3 | 2010-11-22 | 2010-11-22 | |||
4 | 2010-11-18 | 2010-11-18 | |||
5 | 2010-11-18 | 2010-11-18 | |||
6 | 2010-07-28 | 2010-07-28 | |||
7 | 2010-11-22 | 2010-11-22 | |||
8 | 2015-08-18 | 2015-08-18 | 存储器件的快速测试电路及方法有效专利 | ||
9 | 2007-02-16 | 2007-02-16 | 测量完整性的设备和方法失效专利 |
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