一种测量等离子体离子非广延参数的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110059985.5
IPC分类号：H05H1/00
申请日期：
2021-01-18
申请人：
南昌大学

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著录项信息

专利名称	一种测量等离子体离子非广延参数的方法
申请号	CN202110059985.5	申请日期	2021-01-18
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-01	公开/公告号	CN112888128A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H05H1/00 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H05 其他类目不包含的电技术 H05H 等离子体技术（离子束管入H01J 27/00；磁流体发电机入H02K 44/08；涉及生成等离子体的产生X射线的入H05G 2/00）；加速的带电粒子或中子的产生（从放射源获取中子的入G21，例如：G21B，G21C，G21G）；中性分子或原子射束的产生或加速（原子钟入G04F 5/14；受激发射器件入H01S；通过与由分子、原子或亚原子粒子的能级所确定的基准频率相比较而进行频率调整的入H03L 7/26） H05H1/00 等离子体的产生；等离子体的处理（等离子体技术在热核聚变反应器的应用入G21B 1/00）	IPC分类号	H05H1/00查看分类表>
申请人	南昌大学	申请人地址	江西省南昌市东湖区红谷滩新区学府大道9*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南昌大学	当前权利人	南昌大学
发明人	邱慧斌;肖东华;彭行坤;张显阳;朱宇晴;袁尤龙;蔡奇龙;常晋铭;邹雯旭;胡天一;李嘉恒;高玥;明智毅;王章天;刘三秋
代理机构	南昌青远专利代理事务所（普通合伙）	代理人	涂志刚

摘要

本发明涉及一种测量等离子体离子非广延参数的方法，包括如下步骤：用非广延统计力学描述等离子体，求得描述测地声模频率与等离子体离子声速之间关系的公式；收集待测等离子体所在装置中的测地声模的频率和等离子体温度的测量数据；利用求得的描述测地声模频率与等离子体离子声速之间关系的公式对收集到的待测等离子体所在装置中的测地声模的频率和等离子体温度的测量数据进行线性拟合得到斜率值；根据求得的公式和得到的斜率值，并结合所测等离子体所在装置的安全因子，数值求解得到离子非广延参数。本发明填补了在非广延参数诊断中，电子非广延参数已可由非广延电单探针测得而对应的离子非广延参数还无法诊断的空白。

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一种测量等离子体离子非广延参数的方法

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