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试片检验分析系统及方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201110122017.0
  • IPC分类号:G01N21/78;G01N21/84
  • 申请日期:
    2011-05-12
  • 申请人:
    中研应用感测科技股份有限公司;萧敻
著录项信息
专利名称试片检验分析系统及方法
申请号CN201110122017.0申请日期2011-05-12
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2012-09-26公开/公告号CN102692410A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/78IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;7;8;;;G;0;1;N;2;1;/;8;4查看分类表>
申请人中研应用感测科技股份有限公司;萧敻申请人地址
中国台湾新竹市光复路二段101号清华大学育成中心302室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中研应用感测科技股份有限公司,萧敻当前权利人中研应用感测科技股份有限公司,萧敻
发明人萧敻
代理机构上海波拓知识产权代理有限公司代理人杨波
摘要
本发明提出一种试片检验分析系统,其包括试片单元,具有检验项目反应区;移动装置,包括用以获取该试片单元的试片图像的拍照模块及与拍照模块电性连接的传输模块;及远程运算装置,内设试片分析系统,用以对试片图像进行分析并生成检验报告。其中,拍照模块获取的试片图像通过传输模块传输至远程运算装置,检验报告经由远程运算装置回传至移动装置。上述试片检验分析系统可快速获取检验报告并可广泛应用于各种移动装置中。本发明还提供一种应用于上述试片检验分析系统的方法。

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