一种高分辨力准分布式物理量测量方法、装置及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202010413994.5
IPC分类号：G01D5/353
申请日期：
2020-05-15
申请人：
大连理工大学

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著录项信息

专利名称	一种高分辨力准分布式物理量测量方法、装置及系统
申请号	CN202010413994.5	申请日期	2020-05-15
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-19	公开/公告号	CN113670347A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01D5/353 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01D 非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试 G01D5/00 用于传递传感构件的输出的机械装置；将传感构件的输出变换成不同变量的装置，其中传感构件的形式和特性不限制变换装置；非专用于特定变量的变换器（G01D 3/00优先；专门适用于给出除变量的瞬时值以外的结果的仪表入G01D 1/00）〔6〕 G01D5/26 采用光学装置，即应用红外光、可见光或紫外光 G01D5/32 利用光束的减弱或者全部或局部的闭塞（G01D 5/40优先） G01D5/34 利用光电元件检测光束 G01D5/353 影响光纤的传输特性〔6〕	IPC分类号	G;0;1;D;5;/;3;5;3查看分类表>
申请人	大连理工大学	申请人地址	辽宁省大连市高新园区凌工路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	大连理工大学	当前权利人	大连理工大学
发明人	武湛君;赵士元
代理机构	大连东方专利代理有限责任公司	代理人	姜玉蓉;李洪福

摘要

本申请公开了种高分辨力准分布式物理量测量方法，通过耦合于待测物体的光纤光栅阵列测量待测物体的物理量变化，其采用分布式反馈阵列激光器提供拼接的测量光并将测量物理状态下的中心波长与所述光纤光栅阵列上各个光纤光栅各自的初始中心波长做比较获得中心波长变化量，进而得到所述光纤光栅阵列上各个光纤光栅上的物理量变化。本申请采用一种等光频间隔采样的方式获取光栅阵列的光谱，进而实现光纤光栅阵列的波长解调与准分布式物理量测量。获得了大范围访问带宽，使得可以复用更多数量的光纤光栅，提高了单个光纤光栅可探测到的物理量测量的量程。本申请还公开了相应的装置和系统。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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