磁瓦表面微缺陷视觉检测装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201820171033.6
IPC分类号：G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/62;G06T7/155;G06T7/13;G06T7/64
申请日期：
2018-01-31
申请人：
浙江理工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	磁瓦表面微缺陷视觉检测装置
申请号	CN201820171033.6	申请日期	2018-01-31
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;1;1;;;G;0;6;T;7;/;1;3;6;;;G;0;6;T;7;/;6;2;;;G;0;6;T;7;/;1;5;5;;;G;0;6;T;7;/;1;3;;;G;0;6;T;7;/;6;4查看分类表>
申请人	浙江理工大学	申请人地址	浙江省杭州市下沙高教园区2号大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江理工大学	当前权利人	浙江理工大学
发明人	李俊峰;胡浩;张沪强;柳锋
代理机构	杭州中成专利事务所有限公司	代理人	金祺

摘要

本实用新型提供一种磁瓦表面微缺陷视觉检测装置，被用于检测磁瓦，包括正面检测装置一、正面检测装置二、反面检测装置和透明的转盘，正面检测装置一和正面检测装置二位于转盘正上方，反面检测装置位于转盘正下方，正面检测装置一包括一个相机一和两个条形光源一，相机一位于两个条形光源一上方，正面检测装置二包括相机二和碗形光源二，相机二位于碗形光源二正上方，反面检测装置包括一个相机三、两个条形光源三和一个碗形光源三，相机三位于碗形光源三和条形光源三的正下方。本实用新型可以在不同时间、不同工序对同一个磁瓦进行全面的检测；在时间和效率上要好过现有装置，符合实际工程需求。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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