集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110372517.3
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2021-04-07
申请人：
苏州华兴源创科技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法
申请号	CN202110372517.3	申请日期	2021-04-07
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-06	公开/公告号	CN113219319A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	苏州华兴源创科技股份有限公司	申请人地址	江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州华兴源创科技股份有限公司	当前权利人	苏州华兴源创科技股份有限公司
发明人	凌献忠;田敏
代理机构	广州华进联合专利商标代理有限公司	代理人	缪成珠

摘要

本申请涉及芯片测试技术领域，具体公开一种集成测试板卡、系统及测试方法。装置包括中断产生模块、主控模块及功能测试模块：中断产生模块用于在接收到测试终端发出的测试指令时，产生第一中断触发信号；主控模块响应于第一中断触发信号，获取与测试指令对应的测试参数信息，并根据测试参数信息配置功能测试模块，以使功能测试模块对待测芯片进行测试；主控模块还用于在功能测试模块测试完毕后产生应答指令，并发送应答指令至中断产生模块；中断产生模块还用于在接收到应答指令时，产生第二中断触发信号，并发送第二中断触发信号至测试终端，以通知测试终端获取测试结果。上述集成测试板卡节约了测试终端大量的资源，有利于实现高效稳定的测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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