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耦合器、电子部件以及电子部件的制造方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201380011244.3
  • IPC分类号:H01P1/26;H01P5/18
  • 申请日期:
    2013-02-22
  • 申请人:
    TDK株式会社
著录项信息
专利名称耦合器、电子部件以及电子部件的制造方法
申请号CN201380011244.3申请日期2013-02-22
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-11-12公开/公告号CN104145367A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01P1/26IPC分类号H;0;1;P;1;/;2;6;;;H;0;1;P;5;/;1;8查看分类表>
申请人TDK株式会社申请人地址
日本,东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人TDK株式会社当前权利人TDK株式会社
发明人须贺武;藤原俊康
代理机构北京尚诚知识产权代理有限公司代理人杨琦
摘要
本发明的耦合器抑制导体膜与电阻膜的接触电阻并减少由频率引起的衰减量的差异。耦合器(1A)具备分别被设置于基板(基板(K1)、平坦化膜(H0)以及绝缘膜(H01))上的输入端子以及输出端子、被设置于基板上并且一端被连接于输入端子且另一端被连接于输出端子的主线路、包含分别被设置于基板上的导体膜(M1)以及电阻膜(R1)并且在导体膜(M1)的一部分上与主线路相电磁耦合的副线路,导体膜(M1)具有配线图形(L23,L25),电阻膜(R1)具有包含以嵌入于配线图形(L23)与基板之间的形式被配置的端部(R13a)和以嵌入于配线图形(L25)与基板之间的形式被配置的端部(R13b)的电阻膜图形(R13),端部(R13a,R13b)分别至少在上表面以及端面上接触于导体膜(M1)。

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