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一种抗辐射容错SRAM存储阵列及其制备方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201510052367.2
  • IPC分类号:G06F3/06;G06F11/14;G11C11/413
  • 申请日期:
    2015-02-01
  • 申请人:
    复旦大学
著录项信息
专利名称一种抗辐射容错SRAM存储阵列及其制备方法
申请号CN201510052367.2申请日期2015-02-01
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2016-10-05公开/公告号CN105988714A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F3/06IPC分类号G;0;6;F;3;/;0;6;;;G;0;6;F;1;1;/;1;4;;;G;1;1;C;1;1;/;4;1;3查看分类表>
申请人复旦大学申请人地址
上海市杨浦区邯郸路220号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人复旦大学当前权利人复旦大学
发明人佘晓轩
代理机构上海元一成知识产权代理事务所(普通合伙)代理人吴桂琴
摘要
本发明属于集成电路领域,提出一种在写数据、读数据和暂停不用(既不读也不写)时都能抵抗辐射的容错SRAM阵列电路设计方法。本发明在SRAM存储阵列中每一列用于数据读写的SRAM单元末尾增加一个用于数据备份的SRAM单元。每个用于数据读写和备份的SRAM单元都能抵抗辐射。当辐射发生在写入SRAM单元数据时,用于数据备份的SRAM单元能保护与正在写入数据的SRAM单元在同一行的其它没有写入数据的SRAM单元不受辐射影响。SRAM单元的抗辐射设计也能在SRAM存储阵列读数据和暂停不用(既不读也不写)时保护所有SRAM单元不受辐射影响。

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