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MEMS加速度传感器的多参数批量测试设备

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201210581740.X
  • IPC分类号:G01P21/00
  • 申请日期:
    2012-12-28
  • 申请人:
    苏州中盛纳米科技有限公司
著录项信息
专利名称MEMS加速度传感器的多参数批量测试设备
申请号CN201210581740.X申请日期2012-12-28
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2013-04-24公开/公告号CN103063879A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01P21/00IPC分类号G;0;1;P;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人苏州中盛纳米科技有限公司申请人地址
江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路99号c幢413# 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人苏州中盛纳米科技有限公司当前权利人苏州中盛纳米科技有限公司
发明人刘俊;石云波;丑修建;郭涛;薛彦辉
代理机构太原科卫专利事务所(普通合伙)代理人暂无
摘要
本发明涉及MEMS加速度传感器的标定校准技术,具体是一种MEMS加速度传感器的多参数批量测试设备。本发明解决了现有标定校准设备存在标定校准耗时长、标定校准效率低、标定校准能力有限、以及无法实现批量化自动标定校准的问题。MEMS加速度传感器的多参数批量测试设备,包括可变环境装置、批量化标定测试平台、自动装卡平台、多通道数据采集系统、可变环境控制系统、装卡控制系统、以及主控制系统;批量化标定测试平台、自动装卡平台、可变环境控制系统均安装于可变环境装置内;多通道数据采集系统的信号输出端与主控制系统的信号输入端连接。本发明适用于MEMS加速度传感器的标定校准。

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