芯片测试方法及相关装置

发明专利有效专利

申请号：
CN200510067248.0
IPC分类号：--
申请日期：
2005-04-20
申请人：
威盛电子股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	芯片测试方法及相关装置
申请号	CN200510067248.0	申请日期	2005-04-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2005-09-14	公开/公告号	CN1667427
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	威盛电子股份有限公司	申请人地址	台湾省台北县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	威盛电子股份有限公司	当前权利人	威盛电子股份有限公司
发明人	萧进发;江晋毅
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	王志森;黄小临

摘要

本发明提供一种芯片测试方法与相关装置。一般的芯片中会有数字的输出/输入电路以及模拟的发射/接收电路；芯片要发出的信号会经由输出电路转换为特定格式的输出信号再经由发射电路驱动发出。外界传输至芯片的信号会经由接收电路检测，再经由输入电路反转换以形成芯片可解读的信号。而本发明在芯片内建内回路的相关电路，在测试芯片时即可将发射/接收电路旁路而直接将输出电路的输出信号回路至输入电路，以便明确地各自分辨出各个输出/输入电路及发射/接收电路是否正常。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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