一种高分辨率的滚转角测量装置及测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210286430.5
IPC分类号：G01B11/26
申请日期：
2012-08-13
申请人：
西安交通大学;陕西恒通智能机器有限公司

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著录项信息

专利名称	一种高分辨率的滚转角测量装置及测量方法
申请号	CN201210286430.5	申请日期	2012-08-13
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2012-12-12	公开/公告号	CN102818541A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/26 用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人	西安交通大学;陕西恒通智能机器有限公司	申请人地址	陕西省西安市咸宁西路28号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安交通大学,陕西恒通智能机器有限公司	当前权利人	西安交通大学,陕西恒通智能机器有限公司
发明人	王昭;汤善治;高建民;钟丽红;郭俊杰
代理机构	西安通大专利代理有限责任公司	代理人	徐文权

摘要

本发明公开了一种高分辨率的滚转角测量装置，包括双频激光器、1/2波片、凸透镜、平面反射镜和角锥反射镜；所述双频激光器的光轴后设置有分光棱镜，所述分光棱镜的透射光轴上依次设置有1/4波片和五五分光镜；所述五五分光镜的透射光轴下方设置有角锥反射镜；所述1/2波片设置在角锥反射镜和凸透镜之间；本发明采用1/2波片作为滚转角测量的探测元件，其位于角锥反射镜和凸透镜之间，且与凸透镜后焦平面上的平面反射镜构成一个内部多次反射腔；通过1/2波片将其滚转角信息调制为偏振光相位变化，它将不仅可解决传统激光干涉法难以测量与激光束方向垂直平面内的滚转角问题，而且与现有滚转角测量方法相比，它具有高分辨率的优势。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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