原子吸光光度计和原子吸光光度计的极微量分析诊断方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910247666.X
IPC分类号：G01N21/31;G01N21/15
申请日期：
2019-03-29
申请人：
日本株式会社日立高新技术科学

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专利名称	原子吸光光度计和原子吸光光度计的极微量分析诊断方法
申请号	CN201910247666.X	申请日期	2019-03-29
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2019-10-11	公开/公告号	CN110320167A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/31 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/25 颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响〔3〕 G01N21/31 测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;3;1;;;G;0;1;N;2;1;/;1;5查看分类表>
申请人	日本株式会社日立高新技术科学	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	日本株式会社日立高新技术科学	当前权利人	日本株式会社日立高新技术科学
发明人	山本和子;西村崇;石田浩康;坂元秀之
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明提供原子吸光光度计和原子吸光光度计的极微量分析诊断方法。在电加热原子吸光中进行极微量分析的情况下，当存在污染的影响时，无法得到正确的分析值。以往，测定者根据经验反复进行用于确定污染源的事前测定，需要时间和劳力。分析初学者无法进行针对污染的判断，有时得出错误的结果。为了解决上述课题而完成的本发明是具有“极微量分析诊断系统”的装置和系统，其具有原子吸光光度计主体、自动取样器和操作用PC，对判定包含反应杯在内的电加热炉、自动取样器的送液路径、样品杯和测定溶剂等的污染的顺序进行自动化。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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