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一种半导体衬底、电子元器件以及半导体衬底的制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110113127.4
  • IPC分类号:H01L21/02
  • 申请日期:
    2021-01-27
  • 申请人:
    济南晶正电子科技有限公司
著录项信息
专利名称一种半导体衬底、电子元器件以及半导体衬底的制备方法
申请号CN202110113127.4申请日期2021-01-27
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-06-11公开/公告号CN112951709A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/02IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;0;2查看分类表>
申请人济南晶正电子科技有限公司申请人地址
山东省济南市高新区港兴三路北段1号济南药谷研发平台1号楼B1806 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人济南晶正电子科技有限公司当前权利人济南晶正电子科技有限公司
发明人杨超;李真宇;孔霞;李洋洋
代理机构北京弘权知识产权代理有限公司代理人逯长明;许伟群
摘要
本申请提供了一种半导体衬底、电子元器件以及半导体衬底的制备方法,半导体衬底从上至下依次包括:薄膜层、绝缘层、缺陷层以及衬底层;缺陷层包括至少一层多晶硅层以及至少一层非晶硅层;多晶硅层以及非晶硅层交替层叠设置。本申请实施例提供的半导体衬底,在多晶硅层中插入非晶硅层,由于非晶硅层中不含有晶粒,因此,有效解决了多晶硅材料引发的应力过大、抛光纹等现象。

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