具有元件布局检查功能的抓取式设备

发明专利无效专利

申请号：
CN02826679.X
IPC分类号：H05K13/08
申请日期：
2002-11-12
申请人：
赛博光学公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	具有元件布局检查功能的抓取式设备
申请号	CN02826679.X	申请日期	2002-11-12
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2005-05-04	公开/公告号	CN1613285
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H05K13/08 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H05 其他类目不包含的电技术 H05K 印刷电路；电设备的外壳或结构零部件；电气元件组件的制造（其他类目不包括的仪器零部件或其他设备的类似零部件入G12B；薄膜或厚膜电路入H01L 27/01，H01L 27/13；用于对印刷电路或印刷电路之间的电连接的非印刷方法入H01R；用于特殊类型设备的外壳或其结构零部件，见有关小类；仅包括单一工艺的加工方法，例如已列入其他类目的加热、喷射，见有关的类） H05K13/00 专门适用于制造或调节电元件组装件的设备或方法 H05K13/08 制造组装件的监测	IPC分类号	H;0;5;K;1;3;/;0;8查看分类表>
申请人	赛博光学公司	申请人地址	美国明尼苏达州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	赛博光学公司	当前权利人	赛博光学公司
发明人	戴维·W·杜基特;保罗·R·豪根;戴维·菲什拜因;斯科特·D·罗思;托马斯·W·布什曼;约翰·D·加意达;戴维·D·马德森;西奥多·保罗·戴尔;托德·D·利伯蒂;布兰特·O·布希卡
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	陈瑞丰

摘要

由抓取式设备(301)实行改进的元件布局检查和确认。这些改进包括：预期元件布局位置的立体成像；强化照明，以促进在置放管嘴(208，210，212)附近的有限空间内提供相当高功率的照明；光学装置(380)使图像获取设备(300，302)能够从相对于放置位置平面成一定角度观察放置位置(360)；利用以商业上适用的CCD阵列快速获取图像的技术，使放置前和放置后图像的获取不致明显影响整个系统；图像处理技术可以提供元件检查和确认的信息。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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