宽角度宽光谱的偏振分束膜特性的测量装置

发明专利无效专利

申请号：
CN03129344.1
IPC分类号：--
申请日期：
2003-06-18
申请人：
中国科学院上海光学精密机械研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	宽角度宽光谱的偏振分束膜特性的测量装置
申请号	CN03129344.1	申请日期	2003-06-18
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2004-02-18	公开/公告号	CN1475780
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	中国科学院上海光学精密机械研究所	申请人地址	上海市800－211邮政信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人	徐学科;汤兆胜;范正修;邵建达
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	张泽纯

摘要

一种宽角度宽光谱的偏振分束膜特性的测量装置，其特点是沿主光路依次包括光源、单色仪、起偏棱镜、分束镜、光阑、锥状棱镜、能量计，所述的起偏棱镜置于旋转平台1上，所述的锥状棱镜和待测样品都置于旋转平台2上，在分束镜的反射光路上设对比光能量计，还有一计算机，该计算机一方面按测量程序控制旋转平台1和旋转平台2的运动，另一方面接收能量计和对比光能量计的测试结果并进行数据处理，显示或打印出测试样品的光谱和消光比。本装置具有性能稳定可靠、操作方便、测试结果精确的优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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