一种基于深度学习TEM图像分割的粒径分析方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010778762.X
IPC分类号：G06T7/194;G06N3/08
申请日期：
2020-08-05
申请人：
大连交通大学

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著录项信息

专利名称	一种基于深度学习TEM图像分割的粒径分析方法
申请号	CN202010778762.X	申请日期	2020-08-05
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2020-11-06	公开/公告号	CN111899274A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/194 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕 G06T7/10 分割；边缘检测（基于运动的分割入G06T 7/215）〔2017.01〕 G06T7/194 涉及前景-背景分割〔2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;1;9;4;;;G;0;6;N;3;/;0;8查看分类表>
申请人	大连交通大学	申请人地址	辽宁省大连市沙河口区黄河路794号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	大连交通大学	当前权利人	大连交通大学
发明人	刘淑慧;刘伟
代理机构	大连东方专利代理有限责任公司	代理人	王思宇;李洪福

摘要

本发明提供一种基于深度学习TEM图像分割的粒径分析方法，包括以下步骤：S1：准备数据集，对数据集中的图像待进行标注，按一定的比例将已标注的图像分为训练集和验证集；S2：构建深度学习神经网络架构，采用训练集对深度学习神经网络架构进行训练，采用验证集数据验证深度学习神经网络架构性能，然后将训练好的深度学习神经网络架构和参数进行储存；S3：利用步骤S2得到的深度学习神经网络架构对待分析图像进行语义分割；S4：针对处理后的语义分割图像中颗粒的直径进行直方图统计，将直方图作为纳米颗粒粒径分析的结果。本发明解决了现有技术中利用人工标记与测量TEM图像中纳米颗粒直径，费时耗力且不准确的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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