加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

测量物体尺寸的装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN95119638.3
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    1995-11-29
  • 申请人:
    日本EM株式会社
著录项信息
专利名称测量物体尺寸的装置
申请号CN95119638.3申请日期1995-11-29
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日1997-05-21公开/公告号CN1150242
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人日本EM株式会社申请人地址
日本静内县 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人日本EM株式会社当前权利人日本EM株式会社
发明人星山浩树
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人张志醒;邹光新
摘要
一种度盘,具有布置成矩阵且成点对称形状的标记。将度盘和待测量尺寸的物体固定使之无相对运动。图象传感器单元选择地和连续地检测物体的预定部位和与其相对应的度盘标记,图象传感单元按对物体和度盘的检测结果产生输出信号。对信号处理并计算物体尺寸。一种测量物体尺寸的装置,可消除视差,从而满意地改善了测量精度。在该装置中,物体和标记配置成使物体与一读取单元之间的光学距离等于标记与该读取单元之间的光学距离。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供