一种基于LabVIEW的电树枝通道局部放电分析系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201710136386.2
IPC分类号：G01R31/12
申请日期：
2017-03-09
申请人：
哈尔滨理工大学

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著录项信息

专利名称	一种基于LabVIEW的电树枝通道局部放电分析系统
申请号	CN201710136386.2	申请日期	2017-03-09
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2017-08-25	公开/公告号	CN107091974A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/12 测试介电强度或击穿电压	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;1;2查看分类表>
申请人	哈尔滨理工大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨理工大学	当前权利人	哈尔滨理工大学
发明人	张晓虹;李琳;石泽祥;程成;张双
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种基于LabVIEW的电树枝通道局部放电分析系统，该系统由硬件部分和软件部分组成。该系统的硬件部分包括电源、服务器、罗氏线圈、数据采集卡和示波器，对局部放电信号进行测量、采集和显示。软件部分是基于LabVIEW平台开发的，将测量和采集到的电树枝生长过程中产生的局部放电信号进行去噪和阈值分析，显示时域下的局放信号波形，经过转换模块，显示频域下的局放信号波形，然后通过提取放电相位和放电频率，构造二维放电谱图。该系统利用LabVIEW技术和罗氏线圈对局部放电信号进行采集和处理，来分析所测试试样中的电树枝生长过程产生的局部放电情况，进一步地判断所测试绝缘材料的老化情况。该系统可靠性高，能做到实时监测，实用性强。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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