一种基于数字图像技术的平面面积测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201010204050.3
IPC分类号：G01B11/28;G06T5/00
申请日期：
2010-06-18
申请人：
杭州双树科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种基于数字图像技术的平面面积测量方法
申请号	CN201010204050.3	申请日期	2010-06-18
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2010-10-20	公开/公告号	CN101865679A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/28 用于计量面积（一般积分器入G06G）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;8;;;G;0;6;T;5;/;0;0查看分类表>
申请人	杭州双树科技有限公司	申请人地址	浙江省杭州市拱墅区湖州街51号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江大学城市学院	当前权利人	浙江大学城市学院
发明人	柯海丰;张高燕
代理机构	杭州求是专利事务所有限公司	代理人	陈昱彤

摘要

本发明公开一种基于数字图像技术的平面面积测量方法，包括如下步骤：(1)对测量系统的摄像装置进行参数标定，得到摄像装置内部参数；(2)利用摄像装置得到背景的原始图像，并对图像进行成像矫正和/或畸变矫正、灰度化处理，获得背景的灰度图像；(3)将面积已知的平面基准物置于背景中，用摄像装置对平面基准物成像，对图像进行成像矫正和/或畸变矫正、灰度化处理、差分运算、二值化处理，获取平面基准物的二值图像的非零像素数，得到测量系统的像素当量；(4)将被测量物置于背景中，按与步骤(3)相同的方法获取被测量物的二值图像的非零像素数；(5)根据测量系统的像素当量和被测量物的二值图像的非零像素数得到被测量物面积。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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