PZT调制系数测试装置及测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201310257844.X
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2013-06-26
申请人：
中国科学院半导体研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	PZT调制系数测试装置及测试方法
申请号	CN201310257844.X	申请日期	2013-06-26
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2013-10-09	公开/公告号	CN103344414A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院半导体研究所	申请人地址	北京市海淀区清华东路甲35号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院半导体研究所	当前权利人	中国科学院半导体研究所
发明人	方高升;徐团伟;李芳
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	汤保平

摘要

本发明提供一种PZT调制系数测试装置及测试方法，其中PZT调制系数测试装置，包括：一窄线宽半导体激光器；一光隔离器，其输入端与窄线宽半导体激光器的输出端连接；一迈克尔逊干涉仪，其第一输入端与光隔离器的输出端连接；一光电探测器，其输入端与迈克尔逊干涉仪的输出端连接；一数据采集卡，其第一输入端与光电探测器的输出端连接；一数据处理系统，其输入端与数据采集卡的输出端连接；一载波电路，其第一输出端与迈克尔逊干涉仪的第二输入端连接，第二输出端与数据采集卡的第二输入端连接。本发明其可解决现有光纤激光式传感解调系统中PZT调制系数稳定控制与调节的技术问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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