一种基于测量光路多重反射的相位调制双零差干涉仪

发明专利有效专利

申请号：
CN202110391840.5
IPC分类号：G01J9/02;G01B9/02
申请日期：
2021-04-13
申请人：
中国人民解放军国防科技大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种基于测量光路多重反射的相位调制双零差干涉仪
申请号	CN202110391840.5	申请日期	2021-04-13
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-18	公开/公告号	CN112985623A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J9/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J9/00 测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长（光谱测定法入G01J 3/00）〔3〕 G01J9/02 采用干涉法〔3〕	IPC分类号	G;0;1;J;9;/;0;2;;;G;0;1;B;9;/;0;2查看分类表>
申请人	中国人民解放军国防科技大学	申请人地址	湖南省长沙市开福区德雅路109号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国人民解放军国防科技大学	当前权利人	中国人民解放军国防科技大学
发明人	向志毅;周健;聂晓明;王琦;黄荣;席崇宾;陈兰剑;程吉利
代理机构	长沙国科天河知识产权代理有限公司	代理人	赵小龙

摘要

本发明提出了一种基于测量光路多重反射的相位调制双零差干涉仪，通过多个分光器件将光路分为参考干涉光路与测量干涉光路两部分，并通过电光调制使得体现两路信号光程差的相位变化可以直接观测，其中在测量光路中采用光程倍增结构，使得入射到光程倍增结构中的光束在光程倍增结构中反射多次后原路返回。本发明所提供的干涉仪不需要用到双频激光器和偏振分光镜就能达到类似于外差干涉的效果，从而使得非线性误差大大减小，并且在测量光路中采用两个平面反射镜多次反射光路可以达到多倍光学细分的作用，从而使得干涉仪的分辨率大大增加。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供