一种RFID芯片暗箱检测设备

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201821602390.X
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2018-09-29
申请人：
广州驰立自动化设备有限公司

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著录项信息

专利名称	一种RFID芯片暗箱检测设备
申请号	CN201821602390.X	申请日期	2018-09-29
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	广州驰立自动化设备有限公司	申请人地址	广东省广州市经济技术开发区开发大道225号第七层705房变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广州驰立自动化设备有限公司	当前权利人	广州驰立自动化设备有限公司
发明人	邓敏辉;谢继华;岑志峰;黄晓光;张海强
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型涉及RFID芯片检测设备技术领域，且公开了一种RFID芯片暗箱检测设备，包括检测机箱、设备机箱和电脑，该设备机箱位于检测机箱的底部，该电脑位于设备机箱上表面的右侧，所述检测机箱的内腔开设有一空腔，所述空腔的后面板且位于中部的位置处安装有一RFID天线平台，该RFID天线平台向上延伸，所述空腔下表面的中央且远离RFID天线平台的位置处安装有测试平台机构。该RFID芯片暗箱检测设备，通过RFID天线平台和测试平台机构的设计，可以实现该检测设备可以有效的对RFID芯片进行相关的检测工作，避免了原有技术中需要人工对RFID芯片进行逐步检测，解决了原有技术中需要人工对RFID芯片进行检测从而导致RFID芯片漏检或者检测结果不够准确的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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