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一种脚型参数测量装置及测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110373179.1
  • IPC分类号:A43D1/02
  • 申请日期:
    2011-11-22
  • 申请人:
    中国科学院合肥物质科学研究院
著录项信息
专利名称一种脚型参数测量装置及测量方法
申请号CN201110373179.1申请日期2011-11-22
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-07-04公开/公告号CN102525034A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号A43D1/02IPC分类号A;4;3;D;1;/;0;2查看分类表>
申请人中国科学院合肥物质科学研究院申请人地址
安徽省合肥市西郊董铺1130号信箱 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院合肥物质科学研究院当前权利人中国科学院合肥物质科学研究院
发明人周旭;王俊青;程涛军;孙怡宁;李文;占礼奎;马祖长;杨先军;姚志明;何江南
代理机构安徽合肥华信知识产权代理有限公司代理人余成俊
摘要
本发明公开了一种脚型参数测量装置及测量方法,装置包括封装箱体、计算机,以及分别嵌入封装箱体中的足底扫描测试平台、多个摄像头、带有光栅的点光源。本发明通过实际集成化设备,将平面扫描仪,点光源和两个摄像头设备有机结合,形成一个脚型参数测量装置,直接提供完整的足部特征位置、数据信息以及三维重构的足部模型。

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