物体表面的检查方法和检查系统

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专利名称	物体表面的检查方法和检查系统
申请号	CN03102169.7	申请日期	2003-01-30
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2003-08-13	公开/公告号	CN1435676
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/30 用于计量表面的粗糙度和不规则性	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;3;0;;;G;0;1;N;2;1;/;8;8;;;G;0;3;B;1;9;/;0;2;;;G;0;6;T;1;/;0;0查看分类表>
申请人	同和矿业株式会社	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	同和矿业株式会社	当前权利人	同和矿业株式会社
发明人	氏原尚;猪股宽成;藤田功
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	王岳;张志醒

摘要

本发明是一种方法，用于通过使用CCD相机对物体的所要检查表面进行拍摄所得的图像来检查物体表面，其中，在图像内从表示所要检查表面的象素中选择任意两个象素，并且比较这两个象素，从而检查物体表面。当选择两个象素时，例如，可以选择点对称或线对称的象素。而且，例如，比较这两个选定象素的亮度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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