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毫米波检查设备的摆动反射装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201010223277.2
  • IPC分类号:H02K7/00
  • 申请日期:
    2010-06-30
  • 申请人:
    清华大学;同方威视技术股份有限公司
著录项信息
专利名称毫米波检查设备的摆动反射装置
申请号CN201010223277.2申请日期2010-06-30
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-01-11公开/公告号CN102315720A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H02K7/00IPC分类号H;0;2;K;7;/;0;0查看分类表>
申请人清华大学;同方威视技术股份有限公司申请人地址
北京市海淀区清华大学 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人清华大学,同方威视技术股份有限公司当前权利人清华大学,同方威视技术股份有限公司
发明人赵自然;罗希雷;郑志敏;吴万龙;沈宗俊
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人刘晓峰
摘要
本发明公开一种毫米波检查设备的摆动反射装置,包括支撑架;摆动反射板,所述摆动反射板转动地支撑在所述支撑架上;和驱动电机,所述驱动电机与所述摆动反射板直接刚性连接,用于驱动所述摆动反射板往复摆动。与现有技术相比,在本发明的上述各个实施例中,由于驱动电机与摆动反射板直接刚性连接,因此,用较小型号的驱动电机就能够驱动摆动反射板高速往复运动。另外,由于摆动反射板采用了网状框架和具有筛孔的薄板,因此能够减轻摆动反射板的质量,从而有利于进一步提高摆动反射板往复运动的速度,而且还可以减少机械运动时的刚性传导噪声。

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