一种LED元件测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201220278193.3
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2012-06-13
申请人：
京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种LED元件测试装置
申请号	CN201220278193.3	申请日期	2012-06-13
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司	申请人地址	北京市朝阳区酒仙桥路10号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	京东方科技集团股份有限公司,北京京东方显示技术有限公司	当前权利人	京东方科技集团股份有限公司,北京京东方显示技术有限公司
发明人	肖光辉;尹大根
代理机构	北京同达信恒知识产权代理有限公司	代理人	黄志华

摘要

本实用新型公开了一种LED元件测试装置，涉及测试装置领域，所述LED元件测试装置包括调节杆、第一滑块及第二滑块，其中，所述第一滑块及所述第二滑块设置在所述调节杆上，所述第一滑块和第二滑块相对的侧面分别设置导电电极，每一导电电极连接一导线。本实用新型中，通过此LED元件测试装置进行测试，方便，快捷，省时省力，能够有效的避免由于焊接造成的样品损坏，并且接触电阻保持稳定，使得LED的测试结果更加可信准确。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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